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用理学3064X荧光仪分析碳

金德龙 陆晓明 吉昂

金德龙, 陆晓明, 吉昂. 用理学3064X荧光仪分析碳[J]. 分析测试技术与仪器, 1996, (3): 38-43.
引用本文: 金德龙, 陆晓明, 吉昂. 用理学3064X荧光仪分析碳[J]. 分析测试技术与仪器, 1996, (3): 38-43.
Jin Delong, Lu Xiaoming, Ji Ang. Determination of Carbon with Rigaku 3064 XRF Spectrometer[J]. Analysis and Testing Technology and Instruments, 1996, (3): 38-43.
Citation: Jin Delong, Lu Xiaoming, Ji Ang. Determination of Carbon with Rigaku 3064 XRF Spectrometer[J]. Analysis and Testing Technology and Instruments, 1996, (3): 38-43.

用理学3064X荧光仪分析碳

Determination of Carbon with Rigaku 3064 XRF Spectrometer

  • 摘要: 在理学3064X荧光仪上采用十八烷基马来酸(OHM)晶体作为色散单元,通过改造电路,调整晶体倾角,获得对碳分析的良好线性,在流气正比计数器(FPC)窗膜分别为5μm和0.6μm条件下,碳元素的峰背比分别达到38.91和54.04.作者分析了白口铸铁和碳化硅中的碳,结果表明在理学3064X荧光仪上定量分析碳是可行了,具有快速、简便、准确、多元素同时分析的特点,可用于日常分析.
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出版历程
  • 收稿日期:  1996-04-05
  • 修回日期:  1996-07-09

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