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样品高度对XPS测试的影响

章小余 赵志娟 刘芬

章小余, 赵志娟, 刘芬. 样品高度对XPS测试的影响[J]. 分析测试技术与仪器, 2013, 19(4): 244-246.
引用本文: 章小余, 赵志娟, 刘芬. 样品高度对XPS测试的影响[J]. 分析测试技术与仪器, 2013, 19(4): 244-246.
ZHANG Xiao-yu, ZHAO Zhi-juan, LIU Fen. Effects of Sample Height on XPS[J]. Analysis and Testing Technology and Instruments, 2013, 19(4): 244-246.
Citation: ZHANG Xiao-yu, ZHAO Zhi-juan, LIU Fen. Effects of Sample Height on XPS[J]. Analysis and Testing Technology and Instruments, 2013, 19(4): 244-246.

样品高度对XPS测试的影响

基金项目: 

中国科学院仪器设备功能开发技术创新项目(Y3290512B1)

Effects of Sample Height on XPS

  • 摘要: 采用Al靶微聚焦单色器光电子能谱仪进行XPS测试时,如果样品高度选择不好,会导致测得的光电子峰强度降低. 而对于一些电子结合能较高的元素,其光电子峰会变宽,有时出现双峰. 分析了该现象的原因是X射线光斑、电子中和枪中和区域以及光电子能量接收区域没有聚焦于同一点.
  • 吴正龙, 刘洁. 现代X光电子能谱(XPS)分析技术[J]. 现代仪器, 2006(1):50-53.
    黄惠忠, 等著. 论表面分析及其在材料研究中的应用[M]. 北京:科学技术文献出版社, 2002:1-229; 680-707.
    吴正龙, 译. 表面分析(XPS和AES)引论[M]. 上海:华东理工大学出版社, 2008:第二章.
    刘芬, 赵志娟, 邱丽美, 等. XPS分析固体粉末时的样品制备法研究[J]. 分析测试技术与仪器, 2007, 13(2):107-109.
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出版历程
  • 收稿日期:  2013-09-18
  • 修回日期:  2013-09-29
  • 刊出日期:  2013-12-27

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